增材制造样件

增材制造（AM）是一种相对较新且发展迅速的技术，它与机械加工等更传统的减材方法相辅相成。AM 的主要优点是它可以制造复杂的几何形状，并创建内部特征，而这些特征是不容易用减材方法制造的。但 AM 的一大缺点是它降低了对表面质量和尺寸公差的控制能力。

现今，对于 AM 所能制造的各种表面的表面形貌和纹理的表征需求越来越大。 随着工业和技术的进步，制造商需要对各种表面、材料和零件几何形状的表面形状、纹理和几何特征进行精确测量。

对于许多光学计量技术来说，对 AM 制造的表面和零件进行精确的表面形貌测量是一项具有挑战性的任务。ZYGO 的三维光学轮廓仪基于创新的相干扫描干涉测量技术（CSI），可以精确、快速地测量高斜率或低反射率的表面特征（基于 MoreData™ 专利技术），这使它成为 AM 零件工艺开发和质量控制的宝贵工具。

综上所述，ZYGO CSI 技术为 AM 零件的表面计量带来了显著的优势：

• 非接触式、三维区域测量技术 • 高数据密度和高速度（每次测量只需几秒的时间）
• 在所有放大倍率下都有亚纳米级的高精度
• 多光强模式（HDR）和低信噪比（SNR）
• 可采集高倾斜、粗糙/低反射率表面的数据
• 可变的测量区域（从低到高的放大倍率） • 增强的表面形貌可视化效果，真彩色成像