激光器

ZMI™ 系列 – 位移测量干涉仪

ZMI™ 激光器可提供高度稳定的双频输出,为高精度的位置计量奠定了坚实的基础。这些激光器基于强大的氦氖技术,具有很高的可靠性,被用作计量仪器的标准配置。

ZMI™ 7705 与 ZMI™ 501A 测量外壳一起使用,在一个结构紧凑的封装中,提供了多达两个测量轴。

ZMI™ 7702、7714 和 7724 激光器可与 ZMI™ 240X 和 4X04 系列测量板卡结合使用。更高功率的激光器允许您用一台设备测量更多的轴。7714 和 7724 激光器采用水冷方式,可实现更高的频率稳定性,并达到最高的精度。

7714 和 7724 激光器的光学隔离特性通过保护激光器不受干涉仪系统中组件的背反射的影响,提供了更大的灵活性和易用性。

  • 宣传册和
    规格表
  • 使用手册
  • 技术论文
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Nano-Position Sensors
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ZMI 7702 激光头
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ZMI 7705 激光头
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ZMI 7714 激光头
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ZMI 7724 激光模块
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ZMI 电源
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Nano-Position Sensors
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ZMI 7702 激光头
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ZMI 7705 激光头
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ZMI 7714 激光头
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ZMI 7724 激光模块
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ZMI 电源
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ZMI™501A 位移测量干涉仪系统
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ZMI™ 7702 激光头
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ZMI™ 7714 激光头
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ZMI™ 7722/7724 激光器手册(零件号 8070- 0257|0277 -xx)
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ZMI 7722_7724 Laser Manual 0589J
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ZMI™501A 位移测量干涉仪系统
DocumentOMP-0532C
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ZMI™ 7702 激光头
DocumentOMP-0402Q
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ZMI™ 7714 激光头
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ZMI™ 7722/7724 激光器手册(零件号 8070- 0257|0277 -xx)
DocumentOMP-0540K
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ZMI 7722_7724 Laser Manual 0589J
DocumentOMP-0589H
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A high-accuracy, multi-channel, fiber-based displacement/distance measuring interferometer system
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A New Laser Measurement System for Precision Metrology
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Advances in optical metrology
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Concepts And Geometries for the Next Generation of Precision Heterodyne Optical Encoders
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Differential interferometer arrangements for distance and angle measurements: Principles, advantages and applications
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Displacement Measuring Interferometry (book chapter)
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Displacement Measuring Interferometry Measurement Uncertainty
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Displacement-Measuring Interferometers Provide Precise Metrology
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A high-accuracy, multi-channel, fiber-based displacement/distance measuring interferometer system
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A New Laser Measurement System for Precision Metrology
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Advances in optical metrology
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Concepts And Geometries for the Next Generation of Precision Heterodyne Optical Encoders
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Differential interferometer arrangements for distance and angle measurements: Principles, advantages and applications
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Displacement Measuring Interferometry (book chapter)
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Displacement Measuring Interferometry Measurement Uncertainty
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Displacement-Measuring Interferometers Provide Precise Metrology
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Encoders graduating to extreme precision
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Error Sources in Displacement Measuring Interferometry
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