透射波前

透射波前误差（TWE）用于鉴定光学元件在光通过它们时的性能。

与表面形状测量不同的是，透射波前测量包括来自前后表面、楔角和材料均匀性的误差。这个整体性能指标有助于更好地理解光学器件的实际性能。

虽然许多光学元件都根据表面面形或 TWE 规格接受了单独的测试，但这些元件不可避免地会被组装到具有自身性能要求的更复杂的光学组件中。在某些应用中，依靠样件测量和公差分析来预测最终性能是可以接受的，但对于要求更高的应用来说，测量成品组件的性能是很重要的。

TWE 测量用于确认光学系统是否符合规格，以及是否能按预期运行。此外，TWE 测量还可用于主动地对准系统，减少装配时间，同时确保实现预期性能。

光学系统的实时光学对准

ZYGO 荣获专利的 DynaPhase® 数据采集技术（集成在当前所有的 ZYGO 干涉仪型号上）可以行业领先的精度进行实时光学对准并测量光学系统的时间变化。

请观看随附视频中的简短演示。

使用 ZYGO 干涉仪，测量透射波前误差既直接，又可靠。